GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
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时间:2024-05-18 13:21:33
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基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | General principles of measruing methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合 |
| ICS分类： | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1992-01-02 |
| 实施日期： | 1993-08-01 |
| 首发日期： | 1992-12-17 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 工业和信息化部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 上海件五厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-08-13 |
| 页数： | 平装16开， 页数：17， 字数：30千字 |
| 书号： | 155066.1-9732 |
适用范围
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环电参数测试方法的基本原理。模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学
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