JIS R1636-1998 精细陶瓷薄膜厚度的试验方法.用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度
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时间:2024-05-22 14:02:15
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【英文标准名称】:Testmethodforthicknessoffineceramicthinfilms--Filmthicknessbycontactprobeprofilometer
【原文标准名称】:精细陶瓷薄膜厚度的试验方法.用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度
【标准号】:JISR1636-1998
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1998-01-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonCeramics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:非金属;特种陶瓷;薄膜材料;硬度;表面粗糙度测定;材料强度;陶瓷
【英文主题词】:specialceramics;hardness;strengthofmaterials;;;surface-roughnessmeasurement;membranes
【摘要】:この規格は,ファインセラミックス薄膜の膜厚を,触針式表面粗さ計によって試験する方法について規定する。適用できる陣厚の範囲は,10-10000nmとする。
【中国标准分类号】:Q32
【国际标准分类号】:81_060_30
【页数】:10P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:精细陶瓷薄膜厚度的试验方法.用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度
【标准号】:JISR1636-1998
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1998-01-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonCeramics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:非金属;特种陶瓷;薄膜材料;硬度;表面粗糙度测定;材料强度;陶瓷
【英文主题词】:specialceramics;hardness;strengthofmaterials;;;surface-roughnessmeasurement;membranes
【摘要】:この規格は,ファインセラミックス薄膜の膜厚を,触針式表面粗さ計によって試験する方法について規定する。適用できる陣厚の範囲は,10-10000nmとする。
【中国标准分类号】:Q32
【国际标准分类号】:81_060_30
【页数】:10P;A4
【正文语种】:日语
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