GB/T 3835-1983 半导体集成电路接口电路系列和品种

作者:标准资料网 时间:2024-05-25 11:26:07   浏览:8262   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:半导体集成电路接口电路系列和品种
英文名称:Families and products of interface circuits for semiconductor integrated circuits
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
替代情况:作废;
发布日期:1983-08-01
实施日期:1984-07-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:96页
适用范围

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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
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【英文标准名称】:Semiconductordieproducts-Part2:Exchangedataformats(IEC62258-2:2011);EnglishversionEN62258-2:2011
【原文标准名称】:半导体芯片级产品.第2部分:交换数据格式(IEC62258-2-2011).英文版EN62258-2-2011
【标准号】:DINEN62258-2-2011
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2011-12
【实施或试行日期】:2011-12-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Assemblies;Automation;Automationsystems;Chips;Components;Connections;Data;Dataexchange;Dataformats;Datarepresentation;Delivery;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Exchange;Formats;Integratedcircuits;Lists;Materials;Mechanicaltesting;Productdata;Production;Semiconductorchips;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;35_040
【页数】:69P;A4
【正文语种】:德语


基本信息
标准名称:染色体畸变估算生物剂量方法
英文名称:Method of chromosome aberration analysis for biological dose assessment
中标分类: 医药、卫生、劳动保护 >> 卫生 >> 职业病诊断标准
ICS分类: 环保、保健与安全 >> 职业安全、工业卫生
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-12-30
实施日期:2012-05-01
首发日期:2011-12-30
作废日期:
主管部门:中华人民共和国卫生部
提出单位:中华人民共和国卫生部
归口单位:中华人民共和国卫生部
起草单位:中国疾病预防控制中心辐射防护与核安全医学所
起草人:白玉书
出版社:中国标准出版社
出版日期:2012-05-01
页数:20页
适用范围

本标准给出了电离辐射诱发人外周血淋巴细胞染色体畸变的剂量-效应曲线的建立和用其估算生物剂量的方法。
本标准适用于一次比较均匀的全身外照射事故受照人员的剂量估算。
本标准也适用于一次比较均匀的全身外照射复合烧伤的病例剂量估算。
本标准不适用于分次照射、长期小剂量累积照射和内照射的生物剂量估算。

前言

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引用标准

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所属分类: 医药 卫生 劳动保护 卫生 职业病诊断标准 环保 保健与安全 职业安全 工业卫生